光谱椭偏仪

光谱椭偏仪

• 品牌： J.A.WOOLLAM
• 型号： V.VASE
• 产地： 中国
• 启用日期： 2014-01-19
• 学科领域： 信息科学与系统科学

仪器信息

仪器名称：

光谱椭偏仪




英文名称：

spectroscopic ellipsometer




所属分类：

分析仪器 > 光谱仪器 > 其他




学科领域：

信息科学与系统科学




技术指标：

主要规格及技术指标: 两个机械臂测试时自动变角范围可达20度—90度； 测量提供的输入光的光谱范围为：193nm—3200nm。 聚焦在待检测材料上的光斑直径可以接近200微米。手动样品移动台可以在X和Y方向上移动，移动范围是45mm。单色仪结构：双腔结构，三光栅Czerny-Turner设计。狭缝精度5微米，波长准确性优于0.5nm。固定起偏器类型格兰-泰勒型，消光比在全波长范围内优于5X10-6。自动相位延迟。




主要功能：

主要功能及特色（应用范围）: 主要功能为：检测材料的特性，包括材料的折射率，薄膜的计算分析，拟合出薄膜的膜系结构等；再者可以用于偏振全息实验分析，利用光谱分析仪对偏振光检测的特点。 特色是软件效率高，人机交互友好，控制精度高。




服务信息

服务内容：

信息与电子




收费标准：

详见设备信息（预约网址）




用户须知：

用户在对仪器进行测试前，应仔细阅读设备使用手册，熟悉设备操作流程。