动态高速红外热像仪

动态高速红外热像仪

• 品牌： QFI
• 型号： TM-HST
• 产地： 美国
• 启用日期： 2013-10-31
• 学科领域： 信息科学与系统科学 材料科学

仪器信息

仪器名称：

动态高速红外热像仪




英文名称：




所属分类：

分析仪器 > 热分析仪器 > 热成像仪




学科领域：

信息科学与系统科学 材料科学




技术指标：

空间分辨率2um；单点脉冲测试时间3us；温度分辨率0.1摄氏度




主要功能：

电子器件芯片热点探测、热分布或热设计验证、热损耗和可靠性研究和热失效定位等




服务信息

服务内容：

按服务要求




收费标准：

按服务内容报价




用户须知：

工业和信息化部电子第五研究所（中国赛宝实验室），又名中国电子产品可靠性与环境试验研究所，始建于1968年，是中国最早从事可靠性研究的权威机构。 实验室可提供从材料到整机设备、从硬件到软件直至复杂大系统的认证计量、试验检测、分析评价、数据服务、软件评测、信息安全、技术培训、标准信息、工程监理、节能环保、专用设备和专用软件研发等技术服务。官方网址：https://www.ceprei.com/。