多功能扫描探针显微镜

多功能扫描探针显微镜

• 品牌： BRUKER
• 型号： ICON
• 产地： 美国
• 启用日期： 2012-09-14
• 学科领域： 生物学 林学 材料科学

仪器信息

仪器名称：

多功能扫描探针显微镜




英文名称：

AFM




所属分类：

分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 扫描探针显微镜




学科领域：

生物学 林学 材料科学




技术指标：

X-Y方向扫描范围：90μm×90μm典型值，最小85um Z方向扫描范围：10μm典型值，在成像及力曲线模式下；最小9.5μm 垂直方向噪音基底：30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽（达到625Hz） X-Y定位噪音（闭环）：≤0.15nm RMS，典型成像带宽（达到625Hz） X-Y定位噪音（闭环）：≤0.10nm RMS，典型成像带宽（达到625Hz） Z传感器噪音水平（闭环）：35pm RMS, 典型成像带宽（达到625Hz） 整体线性误差（X-Y-Z）：0.5% 典型值




主要功能：

是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术。它有一根纳米级的探针，被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时，其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲，偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表面的形貌或原子成分。在聚合物、半导体、能源、数据存储及材料领域的纳米研究中将会得到广泛应用。




服务信息

服务内容：

主要开展植物细胞壁的力学性能研究




收费标准：

600元/小时




用户须知：

实验室所有仪器设备由实验室统一管理，对外测试收取一定的运行成本费，设立对外测试账户，做到专款专用