场发射扫描电子显微镜

场发射扫描电子显微镜

• 品牌： 日本日立公司
• 型号： FE-SEM-4800-1
• 产地： 日本
• 启用日期： 2008-11-30
• 学科领域： 物理学 化学 生物学

仪器信息

仪器名称：

场发射扫描电子显微镜




英文名称：

Field emission scanning electron microscopy




所属分类：

分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 图像分析仪




学科领域：

物理学 化学 生物学




技术指标：

二次电子分辨率： 1.0nm (15 kV) ； 1.4nm (1 kV, WD = 1.5mm , 减速模式 ) ； 放大倍数： 低倍模式： ×20～ ×2,000 ，高倍模式： ×30～ ×800,000 电子枪： 冷阴极场发射电子源 加速电压： 0.5～30kV (0.1KV/ 步，可变，普通模式 ) 样品台： X: 0～ 50mm Y: 0～50mm Z:1.5～30mm T: -5～+70° R:360° ， 样品尺寸（最大）：直径100mm （标准） 信号选择： SE （二次电子）信号， X 射线信号，辅助信号（ 2 通道应用于可选的探测器）




主要功能：

观察样品表面形貌，对微区的元素进行定性、定量分析；在冷冻状态下观察含水或有机溶剂样品




服务信息

服务内容：

许多课题组利用该仪器拍摄了大量满意的图片，在多个一区杂志发表百篇以上文章。




收费标准：

校内：400元/小时，校外：1200元/小时




用户须知：

面向校内外高校、科研院所和企业公司等开放共享，实施测试预约制度。