激光分子束外延及表面检测系统
- 品牌： 日本
- 型号： LMBE-USM1400-4P
- 产地： 日本
- 启用日期： 2007-11-30
- 学科领域： 物理学 材料科学
- 仪器名称：
- 激光分子束外延及表面检测系统
- 英文名称：
- Laster MBE and UHV Variable Temperature 4-probe SPM System
- 所属分类：
- 分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 扫描探针显微镜
- 学科领域：
- 物理学 材料科学
- 技术指标：
- 配置了目前国际上温度最低（6 K）的四探针SPM系统； 配置了分辨率可达20nm的原位超高真空SEM； 四探针测试平台可外加磁场（1.0 T）； 超高真空变温四探针SPM具有单探针SPM的所有功能，每一根探针不仅可以精确地表征各种（导电和非导电）薄膜表面的原子形貌，还可以测量样品的扫描隧道谱（STS，分辨率＜0.01 meV和0.1 pA），其STM和AFM的分辨率分别为 0.1 nm和1 nm。
- 主要功能：
- 集激光分子束外延薄膜沉积、表面形貌观测、纳米材料特性和结构的表征、纳米结构加工、外加磁场下局域输运性质测量于一体。可用于测量低温、外加磁场下的扫描隧道谱，体材料的R-T曲线、I-V和dI/dV-V特性曲线、霍尔效应以及磁电阻效应等输运性质。
- 服务内容：
- 氧化物薄膜沉积；提供四探针STM测试服务。
- 收费标准：
- 200元/小时
- 用户须知：
- 无
激光分子束外延及表面检测系统
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