场发射扫描式电子显微镜
- 品牌： FEI
- 型号： Quanta 250 FEG
- 产地： 中国
- 启用日期： 2013-12-30
- 学科领域： 材料科学
- 仪器名称：
- 场发射扫描式电子显微镜
- 英文名称：
- Field emission scanning electron microscope
- 所属分类：
- 分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 其他
- 学科领域：
- 材料科学
- 技术指标：
- 电子光学系统： 1.1分辨率： 1.1.1高真空模式二次电子（SE）像：30 kV时为1.0 nm；1 kV时为3.0 nm 1.1.2低真空模式二次电子（SE）像：30 kV时为1.4 nm；3 kV时为3.0 nm 1.1.3环境真空模式二次电子（SE）像：30 kV时为1.4 nm 1.1.4高低真空模式背散射电子（BSE）像：30 kV下2.5 nm 1.2 加速电压： 0.2kV－30KV满足 1.3放大倍数：14倍－100万倍满足 1.4放大倍数误差：≤3 %满足 1.5电子枪：Schottky场发射电子枪, 最大束流200n A，满足 1.6物镜光阑：物镜光栏应能自加热自清洁；无需拆卸镜筒即可更换物镜光阑。 1.7.二次电子和背散射电子成像系统:可以任意比率混合， 自动调节和手动调节亮度、对比度，满足 1.8 扫描旋转、动态聚焦和倾斜校正补充，满足 1.8 对于不导电样品可以直接进行能谱和EBSD分析，满足
- 主要功能：
- 物质微观结构分析，能谱分析，EBSD分析
- 服务内容：
- 物质微观结构分析，能谱分析，EBSD分析
- 收费标准：
- 根据实际服务内容结算
- 用户须知：
- 《武汉理工大学大型仪器设备共享开放管理实施细则（试行）》 《武汉理工大学大型精密仪器设备管理与使用效益考核实施细则（试行）》
场发射扫描式电子显微镜
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