亚埃分辨率像差校正透射电镜
- 品牌： FEI
- 型号： Titan G2 60-300
- 产地： 美国
- 启用日期： 2014-04-13
- 学科领域： 材料科学 工程与技术科学基础学科
- 仪器名称：
- 亚埃分辨率像差校正透射电镜
- 英文名称：
- Sub-Angstrom Resolution Aberration Correction Tran
- 所属分类：
- 分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜
- 学科领域：
- 材料科学 工程与技术科学基础学科
- 技术指标：
- 点分辨率：≤0.08nm,信息分辨率：≤0.08nm,高稳定性肖特基场发射电子枪S-FEG,束流：≥0.6nA @ 1nm,电子枪能量分辨率：≤ 0.7eV,束斑漂移：≤ 0.5nm/min,具有洛伦茨透镜，可以观察磁性样品,会聚束电子衍射:最大会聚角：≥100mrad,最大衍射角：≥26°,标准低背景双倾样品台最大倾斜角度：± 40°,样品移动范围 ：X,Y: ± 1 mm；Z : ±0.375 mm,扫描透射(STEM):分辨率： ?0.136nm,探头：高角环形暗场探头（HADDF）
- 主要功能：
- 主要用于材料的超高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成份分析，系统由电子光学系统、高压系统、真空系统等部分组成。
- 服务内容：
- 材料微结构分析
- 收费标准：
- 参考学校共享服务标准，视具体服务内容确定
- 用户须知：
- 采取网上预约和电话预约
亚埃分辨率像差校正透射电镜
仪器信息
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