扫描探针显微镜

扫描探针显微镜

• 品牌： 维易科精密仪器国际贸易（上海）有限公司
• 型号： HR-SPM
• 产地： 中国
• 启用日期： 2010-08-31
• 学科领域： 物理学 材料科学

仪器信息

仪器名称：

扫描探针显微镜




英文名称：

SCANNING PROBE MICROSCOPES




所属分类：

分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 扫描探针显微镜




学科领域：

物理学 材料科学




技术指标：

样品尺寸：直径≤15mm diameter; 厚度约5mm 分辨率：STM分辨率：XY方向≤0.1 nm, Z方向≤0.1nm AFM 分辨率： XY方向≤0.5 nm, Z方向≤1nm 噪音指标：防震台隔离机械震动；隔音系统控制声音噪音，垂直方向RMS 噪音≤0.3，系统噪音0.5～1pA 扫描范围： 10×10×2.5μm（±10nm） 相位同步检测灵敏度：0.01度（1KHz）




主要功能：

1）材料表面形貌测量：高分辨扫描隧道显微镜（STM）、接触/非接触模式原子力显微镜、横向力和空气环境下轻敲模式（Tapping Mode）原子力显微镜； 2）摩擦力分析：摩擦力学曲线、相位成像扫描模式，力调制扫描模式； 3）微观磁力分析：AC和DC磁力显微镜模式； 4）可控环境下的测量：液相环境下的轻敲扫描模式（Tapping mode/force modulation）；不同气体环境下的AFM/STM扫描模式（可用于生物领域的测量和表征） 5）电学性能分析：AC和DC静电力扫描模式、表面电容/电




服务信息

服务内容：

纳米材料表面形貌及其导电材料表面微观结构的测量、材料中不同相结构的分离、磁性材料磁筹的表征等




收费标准：

面议




用户须知：

无