薄膜器测试系统
- 品牌： 吉时利公司
- 型号： Keithley 4200-SCS
- 产地： 美国
- 启用日期： 2011-10-31
- 学科领域： 物理学 材料科学
- 仪器名称：
- 薄膜器测试系统
- 英文名称：
- Semiconductor Characterization System
- 所属分类：
- 电子测量仪器 > 通用电子测量仪器 > 其他
- 学科领域：
- 物理学 材料科学
- 技术指标：
- 1.宽范围I-V测量：亚ρA漏电测量、μΩ电阻测量 2.3种C-V法：多频（1kHz~10MHz）C-V、超低频（10mHz~10Hz）C-V和准静态C-V 3.9个测量槽和内置低噪声接地单元 4.支持Cascade Microtech Summit12K 系列、 Karl Suss PA-200、micromanipulator 的8860 自动和手动探针台
- 主要功能：
- 对薄膜电学性能进行测试，包括直流I-V测量、电容-电压(C-V)测试
- 服务内容：
- 对客户薄膜样品进行电学性能方面的测试，包括直流I-V测量、电容-电压(C-V)测试
- 收费标准：
- 面议
- 用户须知：
- 与半导体所、北京航空航天大学等单位合作横向项目2项,故需提前预约
薄膜器测试系统
仪器信息
服务信息